TEM中对样品的装载固定，操控以及信号传输都要通过样品杆进行。样品杆前

Dalam TEM, pemuatan dan penetapan sampel, manipulasi dan penghantaran isyarat semuanya dilakukan melalui batang sampel. Ukuran tahap sampel di bahagian depan batang sampel dibatasi oleh jarak antara kasut tiang, dan ukurannya biasanya antara beberapa milimeter. Untuk mendapatkan gambar TEM resolusi tinggi tahap atom berkualiti tinggi, tahap dan sampel mesti dapat memiringkan di sepanjang paksi α dan β supaya satah kristal indeks rendah sampel berserenjang dengan pancaran elektron yang berlaku. Tahap hujung hadapan batang sampel condong dua boleh membawa kawasan bulat dengan ukuran sampel yang dibatasi hingga diameter sekitar 3 mm. Dalam jarak yang begitu sempit, adalah kunci teknikal dan masalah ujian TEM in-situ untuk menerapkan medan tekanan pada bahan dan memerhatikan evolusi pelbagai kecacatan pada bahan.

Loading sampel adalah tetap, dimanipulasi dan dihantar melalui rod sampel di suhu. Saiz Mount sampel di hadapan rod sampel adalah terhad dengan jarak beberapa batang but, yang biasanya dalam julat beberapa millimeters. Untuk mendapatkan berkualiti tinggi-resolusi tinggi suhu imej, pengangkut dan sampel di papan perlu boleh menampung condong dwi-paksi di sepanjang paksi Alpha dan Beta supaya sampel satah rendah bereksponen adalah berpakai ke dalam rasuk elektron yang kecil. The Double-condong sampel rod depan pembawa boleh dilengkapi dengan kawasan Pekeliling dengan saiz sampel terhad kepada kira-kira 3mm diameter. Dalam pelbagai bentuk yang kecil, memerhatikan evolusi pelbagai kecacatan dalam bahan adalah kunci teknikal dan masalah sukar suhu di situ.

TEM中对样品的装载固定，操控以及信号传输都要通过样品杆进行。样品杆前端的样品载台尺寸受到极靴间距限制，其尺寸通常在几个毫米之间。要获得高质量的原子级高分辨TEM图像，载台以及所搭载的样品需要能沿α轴和β轴满足双轴倾转使样品低指数晶面与入射电子束垂直。双倾样品杆前端载台可搭载样品尺寸限制在直径3mm左右的圆形区域。在如此狭小的范围内，对材料是施加应力场并对材料内各种缺陷的演化进行观察原位观测是TEM原位试验的技术关键和难题。<br>